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電科太極聯(lián)合攻克數(shù)據(jù)庫測試難題 | 智能化轉(zhuǎn)型·電科樣本
來源：新聞中心
發(fā)布時間：2026年03月18日 編輯：新聞中心
近日，電科太極金倉數(shù)據(jù)庫聯(lián)合共建的數(shù)據(jù)庫協(xié)同創(chuàng)新聯(lián)合實驗室研究成果《DBcover:?A?White-box?SQL?Test?Generation?Framework?for?Coverage?Improvement》?被軟件工程領域國際頂級會議正式錄用，標志著國產(chǎn)數(shù)據(jù)庫在底層技術(shù)研究方面取得又一階段性進展。
針對提高數(shù)據(jù)庫在工業(yè)測試中的代碼覆蓋率難題，電科太極金倉數(shù)據(jù)庫聯(lián)合創(chuàng)新提出DBcover框架，將輕量級動態(tài)分析與大模型（LLM）相結(jié)合，通過理解SQL語句的執(zhí)行路徑，采用兩階段策略智能生成高覆蓋SQL用例，顯著減少冗余執(zhí)行與無效探索，自動推斷觸發(fā)未覆蓋代碼所需的上下文條件，并生成對應測試用例，降低對專家經(jīng)驗的依賴。實驗表明，在相同測試時間內(nèi)，DBcover框架可將代碼覆蓋率提升至80%以上，較基線方法最高提升了56.6%，有力增強金倉數(shù)據(jù)庫內(nèi)核的可靠性。
后續(xù)，電科太極金倉數(shù)據(jù)庫將繼續(xù)深耕數(shù)據(jù)庫領域，以更多創(chuàng)新成果推動國產(chǎn)基礎軟件實現(xiàn)高質(zhì)量發(fā)展。
