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電科思儀推出國內(nèi)首套500GHz多功能芯片測試解決方案
來源：新聞中心
發(fā)布時間：2026年01月26日 編輯：新聞中心
近日，電科思儀研制出3601型S參數(shù)測試模塊、36102型探針、20501型校準片等系列產(chǎn)品，結(jié)合商業(yè)探針臺，在國內(nèi)首次推出最高頻率至500GHz的高穩(wěn)定、多功能太赫茲芯片測試解決方案。
太赫茲技術(shù)正加速從實驗室走向商業(yè)應用，使得行業(yè)對太赫茲芯片測試的要求發(fā)生了根本性轉(zhuǎn)變，測試目標已不再局限于功能層面的“能用”，而是全面追求復雜真實場景中性能穩(wěn)定、測試高效且成本可控的“好用”。電科思儀太赫茲多功能芯片測試解決方案，能夠?qū)崿F(xiàn)太赫茲芯片幅度、相位、群時延等參數(shù)精準測試。該方案具有良好的幅度穩(wěn)定性和相位穩(wěn)定性，適用于晶圓級太赫茲芯片的研發(fā)驗證與量產(chǎn)測試。結(jié)合自主開發(fā)的多功能測試軟件算法，一次扎針可實現(xiàn)散射參數(shù)、功率參數(shù)的一體化測試，大幅度提升晶圓級太赫茲芯片的測試效率和測試精度。
